半導体検査、速度２倍、アドバンテスト、ＮＡＮＤ型向け。

　半導体検査装置大手のアドバンテストは、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリー向けの新型検査装置を発売した。工程別に２機種を用意。検査速度を従来比で２倍以上に高めたほか、同時に検査できる数を増やすことで検査コストを半分程度に抑えることができる。次世代のＮＡＮＤ型フラッシュメモリー向けでの需要を見込む。
　新型検査装置のうち、ウエハーの状態で検査する「ＨＡ５１００ＣＥＬＬ」では、動作周波数は競合製品に比べて２倍以上の１００メガ（メガは１００万）ヘルツを実現。同時に４枚のウエハー、チップでは６１４４個のＮＡＮＤ型フラッシュメモリーを検査できる。パッケージ後向けの「Ｔ５７７３」では、動作周波数は最大２００メガヘルツで同時に７６８個のＮＡＮＤ型フラッシュメモリーを検査できる。
　ＮＡＮＤ型フラッシュメモリーは、スマートフォン（高機能携帯電話）やタブレット端末などの登場で需要が拡大している。さらにデータの転送速度が毎秒４００メガビットと従来比で１０倍近く高速化する次世代製品も開発されている。アドバンテストでは、次世代ＮＡＮＤ型フラッシュメモリー向けの検査装置をいち早く投入することで売上高を拡大する狙いだ。